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影像测量仪VIEW Pinnacle 250

发布日期 :2023-11-15 16:35访问:3次发布IP:121.236.79.206编号:4929901
品牌:
VIEW
行程:
250 x 150 x100 mm
产地:
美国
保修期:
1年
分 类
光学检测仪器
单 价
电议
最小起订量
1 台
供货总量
120 台
发货期限
自买家付款之日起 30 天内发货
有效期至
长期有效
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详细介绍

产出好、精度好尺寸测量仪

 

 

 


 

VIEW Pinnacle 250影像测量仪有着非凡的精度和生产率,优异的MTBF性能,以及在同类型自动测量系统中较低的购置成本。其独特的可编程多色环形灯(PRL)选项运用红、绿、蓝、白LED照明,可轻松应对苛刻的应用。新型的直性运动控制技术造就了运行速度快和可靠的免维护平台,满足从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量、高性能的操作。

可选的软件包增强系统的通用性:

CAD 导入(DXF/IGES) 软件

形状拟合和分析软件

离线编程软件

QC-Calc™ Statistical Process Control (SPC) —实时分析和报告软件

Elements™ CAD To sure测量软件

特征:

- 测量范围:250 x 150 x100 mm

- 25公斤承载力

- 亚微米的光栅尺分辨率

- X-Y无阻力线性马达驱动,平台速度400 mm/秒

- Z轴DC伺服回转马达驱动,100 mm/秒

- 误差映射:在XY平面非线性二维纠错

- 双重放大光学系统,固定镜头,内部放大1-4倍

- 可编程LED平台背光及同轴表面光照明

- 可编程多色环形灯(PRL)选项

- TTL激光选项,具有自动聚焦和扫描功能

- SpectraProbeTM 高分辨率彩色传感器选项

- 先进的图像处理性能,快速、**、稳健

- 双通道,数字式,1.4兆像素的单色相机; 4:1的比例

- 次像素精度: 1/10 - 1/50 pixel

- 独立的Anthro Cart Operator工作站

- 强大的测量软件和数据分析工具可供选择

- 平均无故障工作时间 MTBF ≥ 8,000 小时

Benchmark的应用范围包括:

半导体/电子

BGA, μBGA, CSP, 倒装芯片, MCM, bump-on-die

引线框,引线接合,柔性线路板,连接器

SMT元件贴装

锡膏/环氧数脂胶点

芯片载体和托盒

喷墨打印机墨盒

光纤组件和MEMs

数据存储

悬置件

滑块和悬臂组(HGA)

磁盘介质基板

精密注塑和机加工件

模具和刀具

医疗设备

燃料喷射部件

手表组件


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